SHR AUTOSENSOR TECH LIMITED Инженерная поддержка по запросам цен

Тестирование силовых полупроводников: высоковольтные герконовые реле для валидации модулей IGBT и SiC

27 марта 2026

Power Semiconductor Testing: High Voltage Reed Relays for IGBT and SiC Module Validation

Тестирование силовых полупроводников: высоковольтные герконовые реле для валидации модулей IGBT и SiC

Глобальный переход к электромобилям, возобновляемой энергии и промышленной электрификации стимулирует взрывной спрос на силовые полупроводники, в частности Модули IGBT и SiC (silicon carbide) MOSFETs. Эти устройства работают при напряжениях от 650V до 3,300V и выше, коммутируя токи в сотни ампер на частотах до 100 kHz. Прежде чем они попадут в инвертор EV или солнечный инвертор, каждый модуль должен пройти строгие валидационные испытания. И в сердце каждой испытательной системы находится компонент, который редко оказывается в центре внимания: реле коммутации сигналов.

Выбор неправильного реле для испытательного стенда силовых полупроводников не просто вызывает нестабильные измерения — он может уничтожить дорогие DUT (испытываемые устройства), создать угрозы безопасности и обесценить данные испытаний. В этой статье рассматривается, почему высоковольтные герконовые реле стали стандартной технологией коммутации в тестовых системах IGBT и SiC, и что инженеры должны искать при выборе реле для этих требовательных применений.

Задача тестирования силовых полупроводников

Тестирование силового модуля принципиально отличается от тестирования низковольтной микросхемы. Типичная программа валидации модулей IGBT или SiC включает несколько различных категорий испытаний, каждая со своими требованиями к реле:

1. Испытание высоким напряжением (Hi-Pot)

Испытание высоким напряжением (hi-pot) проверяет изоляцию между силовой цепью и цепью управления/сигналов. Испытательные напряжения обычно составляют от 2500VAC до 5000VAC (или эквивалент постоянного тока) и подаются в течение 1–60 секунд. Реле, коммутирующее сигнал hi-pot, должно выдерживать полное испытательное напряжение без пробоя, сохраняя точность измерения тока утечки в диапазоне микроампер.

Именно здесь сопротивление изоляции имеет огромное значение. Реле с сопротивлением изоляции 1 GΩ при 5KV создаёт утечку 5 µA, что потенциально превышает критерий годен/не годен 1–2 µA для модулей автомобильного класса. Высоковольтные герконовые реле с сопротивлением изоляции 10+ GΩ удерживают утечку, вызванную реле, ниже 0.5 µA, сохраняя целостность измерений.

2. Измерение сопротивления изоляции

Измерение сопротивления изоляции (Riso) предполагает подачу постоянного напряжения (обычно 500V–1000V) между изолированными цепями и измерение результирующего тока. Для автомобильных силовых модулей согласно AEC-Q101 минимальные требования к сопротивлению изоляции обычно составляют от 100 МОм до 1 ГОм при номинальном напряжении.

Релейная матрица, коммутирующая эти измерения, должна иметь сопротивление изоляции значительно выше спецификации DUT. Если сопротивление изоляции реле сопоставимо с сопротивлением DUT, измерение становится расчётом параллельного сопротивления, а не измерением DUT. Герконовые реле с номиналом 10+ GΩ обеспечивают как минимум 10× запас относительно требования DUT в 1 GΩ.

3. Характеристика динамической коммутации

Динамические испытания измеряют параметры коммутации: время включения (ton), время выключения (toff), время нарастания (tr), время спада (tf) и энергию коммутации (Eon, Eoff). Эти испытания требуют точного измерения временных параметров с наносекундным разрешением, а реле маршрутизации сигналов не должны вносить временную неопределённость.

Здесь враг — дребезг контактов. Электромеханическое реле с дребезгом контактов 1–5 ms создаёт переходные процессы, которые могут быть неотличимы от реальных событий коммутации. Герконовые реле с дребезгом 0–50 µs обеспечивают чистые тракты сигнала, которые не искажают измерения синхронизации.

4. Коммутация цепей управления затвором и измерительных линий

Тестирование управления затвором требует коммутации сигналов на выводе затвора при одновременном контроле напряжения и тока коллектор–эмиттер. Многоканальные релейные матрицы маршрутизируют сигналы управления затвором, линии измерения напряжения и линии измерения тока к прецизионной аппаратуре. Реле должно обрабатывать сигнал управления затвором (обычно ±15V – ±20V, пиковый ток управления 0–20A), сохраняя изоляцию от высоковольтной цепи коллектора.

Почему тестирование IGBT доводит реле до предела

Современные модули IGBT для тяговых инверторов электромобилей работают при напряжении звена постоянного тока 800V и скорости коммутации 5–20 кГц. Испытательная система должна проверять характеристики в этих условиях, что создаёт конкретные проблемы для реле коммутации сигналов:

  • Устойчивость к dv/dt: Когда IGBT переключается при 800V с dv/dt 5–15 kV/µs, быстрый переход напряжения ёмкостно связывается с соседними сигнальными линиями. Реле с плохой высокочастотной изоляцией позволяют этому переходному процессу искажать измерительные сигналы.
  • Подавление синфазного сигнала: Коммутация 800V создаёт большие синфазные напряжения на измерительных линиях. Реле должно сохранять изоляцию, пока синфазное напряжение быстро изменяется.
  • Тепловая среда: Испытания силовых полупроводников генерируют значительное тепло. Испытательные приспособления могут работать при окружающей температуре 60–85°C, и реле должно сохранять характеристики во всём этом температурном диапазоне.

Тестирование SiC: ещё более сложная задача

Приборы на основе карбида кремния идут ещё дальше. MOSFET на SiC коммутируют на частотах 50–100 кГц со значениями dv/dt 20–50 кВ/мкс, что в 2–5 раз быстрее, чем у IGBT. Это создаёт дополнительные проблемы:

  • Более высокие ЭМП: Более быстрая коммутация создаёт больше электромагнитных помех, которые проникают в реле маршрутизации сигналов и измерительные кабели.
  • Более широкий диапазон температур: Устройства SiC рассчитаны на более высокие температуры перехода (175°C против 150°C у IGBT), и условия испытаний могут быть более горячими.
  • Требования к более высокому пробивному напряжению: Модули SiC доступны с номиналами 1,200V, 1,700V и 3,300V, что требует от испытательных систем работы с более высокими напряжениями.

Для тестирования модулей SiC критерии выбора реле становятся ещё строже. Реле должно обеспечивать чистую коммутацию на более высоких частотах, сохранять изоляцию при более быстрых переходных процессах и надёжно работать в условиях повышенной температуры.

Преимущества герконовых реле в полупроводниковых системах автоматического тестирования

Высоковольтные герконовые реле решают уникальные задачи тестирования силовых полупроводников благодаря нескольким присущим конструктивным преимуществам:

Герметичная стеклянная колба

Запаянная стеклянная трубка, в которой находятся герконовые контакты, обеспечивает изоляционную среду без загрязнений, не зависящую от влажности. В системе автоматического тестирования полупроводников, где остатки флюса, газовыделение конформного покрытия и влажность окружающей среды меняются, эта герметичная конструкция гарантирует стабильные изоляционные характеристики на протяжении миллионов срабатываний.

Низкое и стабильное сопротивление контактов

Герконовые реле достигают сопротивления контактов 50–200 mΩ, стабильного в течение номинального жизненного цикла. Для коммутации измерительных линий при тестировании силовых модулей это низкое сопротивление вносит минимальную ошибку в измерения напряжения и тока. Сопротивление контактов, дрейфующее при циклировании, — обычное явление для электромеханических реле — напрямую ухудшает точность измерений.

Быстрая коммутация без дребезга

Малая масса и короткое расстояние перемещения герконового контакта обеспечивают быстрое замыкание (50–200 µs) при минимальном дребезге (0–50 µs). Для динамической характеризации коммутации это означает, что реле не вносит артефактов, которые могли бы быть ошибочно приняты за поведение DUT.

Компактный размер

Системы тестирования силовых полупроводников часто требуют плотных релейных матриц — 32, 64 или 128 каналов в компактной оснастке. Герконовые реле в корпусах DIP или SIP обеспечивают высокую плотность каналов без ущерба для номинального напряжения, позволяя проводить больше испытаний на одну оснастку и повышая производительность.

Руководство по выбору продукции SHR AUTOSENSOR для тестирования силовых полупроводников

SHR AUTOSENSOR предлагает несколько серий герконовых реле, оптимизированных для различных применений тестирования силовых полупроводников:

Применение для тестирования Рекомендуемая серия Ключевые характеристики
Испытание высоким напряжением (2,5–5 KVAC) Серия HVR Пробой 4KV–20KV, изоляция 10+ ГОм, герметичная запайка
Измерение сопротивления изоляции Серия HVR Низкая утечка, высокое сопротивление изоляции, стабильное сопротивление контактов
Характеристика динамической коммутации Серия HGFR Нулевой дребезг контактов, быстрая коммутация, идеально для измерений, критичных к временным параметрам
Маршрутизация сигналов управления затвором Серии HGFR / HGSR Низкое сопротивление контактов, высокая изоляция, работа без дребезга
Многоканальная релейная матрица Серия HRM Многоканальные модули, 1–5KV, компактные габариты для плотных матриц

Конструктивные соображения для инженеров по испытательной оснастке

Выбор правильного реле — это только половина дела. Конструкция испытательной оснастки должна учитывать уникальные характеристики высоковольтной коммутации в системах автоматического тестирования полупроводников:

Разводка печатной платы для высокого напряжения

При напряжениях выше 1KV зазоры между дорожками печатной платы становятся критичными. Стандарты IPC-2221 устанавливают минимальные зазоры между проводниками в зависимости от уровня напряжения и степени загрязнения. Для испытательного напряжения 5KV минимальный зазор на внешнем слое составляет 12,5 мм (уровень B2). Использование прорезей или фрезерованных зазоров между высоковольтной и низковольтной секциями обеспечивает дополнительную изоляцию.

Защитные кольца и экраны

Для прецизионного измерения тока утечки защитные кольца, управляемые тем же потенциалом, что и точка измерения, устраняют поверхностные токи утечки на печатной плате. Это особенно важно для испытания высоким напряжением, где измерительные токи находятся в диапазоне микроампер.

Проектирование схемы управления реле

Герконовые реле требуют определённого тока управления катушкой для достижения номинальных характеристик контактов. Недогрузка катушки снижает силу контактов, увеличивая сопротивление контактов и потенциально вызывая прерывистые соединения. Перегрузка увеличивает рассеиваемую мощность и сокращает срок службы реле. Хорошо спроектированная схема управления поддерживает постоянный ток независимо от изменения напряжения питания и температуры.

Теплоотвод

Хотя герконовые реле выделяют меньше тепла, чем электромеханические реле, плотные релейные матрицы в высокотемпературных испытательных средах требуют внимания к тепловому проектированию. Обеспечьте достаточный воздушный поток над релейными сборками и учитывайте кривые снижения номинальных параметров по температуре в техническом описании реле.

Отраслевые тенденции: растущий спрос на тестирование силовых полупроводников

Рынок тестирования силовых полупроводников быстро растёт, движимый несколькими сходящимися тенденциями:

  • Внедрение электромобилей: Каждый электромобиль содержит 10–20 силовых модулей, каждый из которых требует полного валидационного тестирования. При прогнозируемом мировом производстве EV в 40 миллионов единиц к 2030 году спрос на мощности тестирования силовых модулей огромен.
  • Переход на SiC: Переход от кремниевых IGBT к SiC MOSFET требует новых методик испытаний и более производительного испытательного оборудования. Более высокие скорости переключения SiC требуют реле с лучшими высокочастотными характеристиками.
  • Возобновляемая энергетика: Солнечные инверторы, преобразователи ветровых турбин и системы накопления энергии масштаба сети — все используют силовые полупроводники, требующие валидационных испытаний.
  • Автомобильные стандарты качества: Квалификация AEC-Q101 для дискретных полупроводников и AQG 324 для силовых модулей требует обширных испытаний, что стимулирует спрос на высоконадёжную испытательную инфраструктуру.

По мере ускорения этих тенденций реле — казалось бы, простой компонент — становится критически важным фактором производительности и надёжности испытательных систем. Инженеры, понимающие выбор реле для тестирования силовых полупроводников, получают конкурентное преимущество в создании более быстрых, точных и надёжных испытательных систем.

Заключение

Тестирование силовых полупроводников предъявляет экстремальные требования к реле коммутации сигналов: высокая стойкость к напряжению, низкая утечка, работа без дребезга и долговременная стабильность. Высоковольтные герконовые реле удовлетворяют этим требованиям благодаря герметичной запайке, фиксированной геометрии контактов и доказанной надёжности в применениях автоматического тестирования полупроводников.

Для системы испытаний hi-pot автомобильных модулей IGBT или стенда динамической характеризации SiC MOSFET выбор реле влияет на точность измерений, производительность испытаний и надёжность системы. SHR AUTOSENSOR’s HVR и HGFR серии обеспечивают номинальные напряжения, характеристики изоляции и коммутационные характеристики, которые требуют инженеры по испытанию силовых полупроводников.

Связаться с нашей инженерной командой чтобы обсудить ваше применение для испытаний силовых полупроводников, или посмотрите наш каталог высоковольтных герконовых реле для подробных характеристик.

Читайте также: Ртутные герконовые реле: почему нулевой дребезг контактов важен для систем автоматического тестирования | Герконовые реле в тестировании аккумуляторов электромобилей: примечания по применению | Испытания при 20KV: выбор высоковольтных герконовых реле

WhatsApp Запросить цену